日立发布荧光分布成像系统新品 能够同时获得样品的图像和光谱信息

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11月1日消息,刚刚过去的BCEIA大会上,日立高新技术公司正式发布荧光分布成像系统新品。


日立发布荧光分布成像系统新品 能够同时获得样品的图像和光谱信息


荧光分布成像系统


1.  荧光分布成像系统(EEM View)简介


作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。


日立发布荧光分布成像系统新品 能够同时获得样品的图像和光谱信息


新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射 光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品,利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光图像。


2.  荧光分布成像系统特点:


测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)


在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄图像


(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm)


利用自主研发的分析系统1),分开显示荧光图像和反射图像


根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)


1)      国立信息学研究所 佐藤IMARI 教授?郑银强副教授共同研究成果


荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)


日立发布荧光分布成像系统新品 能够同时获得样品的图像和光谱信息


样品安装简单,适用于各种样品测试


样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!


丰富的样品支架


日立发布荧光分布成像系统新品 能够同时获得样品的图像和光谱信息


支持精确测量的校正工具


日立发布荧光分布成像系统新品 能够同时获得样品的图像和光谱信息


总结


以上为荧光分布成像系统的特点和功能结束,这是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。


创新点主要有两个方面:硬件方面:全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起,能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面:运用了智能光谱算法,可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号,得到的是一条荧光光谱,这个新的系统能够对样品表面进行分区,从而获得不同区域的光谱信号,使得光谱信息细致化了。


一般的荧光分光光度计测得的是样品区域表面平均化后的信息,只能获得一条荧光光谱,而日立荧光分布成像系统能够同时获取样品不同位置的光谱信息,有利于探究样品表面的光学性能分布。


日立高新技术以‘让世界充满活力’为宗旨,致力于新技术的融合与开发,这次推出的新品荧光分布成像系统将对油墨、材料、化工、涂料以及LED等领域带来新的启发,新的探索方法。


文章来源: 仪器信息网

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