X-SCAN ME扫描仪上市，可简化恶劣工业环境中的多能量成像

2020年11月16日消息，近日，X射线探测器解决方案的全球领导者Detection Technology公司推出了现成的X-Scan ME系列，以简化系统设计，完善的成像性能并缩短多能量工业扫描仪。

X-Scan ME是光子计数线摄像机和关键探测器附件的完整产品系列，专为苛刻的工业环境而设计。该系列是用于高级回收，食品加工，采矿和其他加工行业中复杂制造过程的分类，分级，质量检查，材料分析和优化的理想解决方案。

“通过扩展高端产品，X-Scan ME非常适合我们的X-Scan产品线。该系列产品满足了苛刻的工业X射线成像需求，这些需求要求材料辨别能力超越传统的双能配置，同时还要寻求坚固性，易于系统集成和可维护性，以提供更高的扫描性能和最终用户体验。”产品经理TomiFält说道。安全和工业业务部门的管理。

“这种应用的一个很好的例子是金属的再循环，尤其是加速了铝的再循环能力。X-Scan ME使快速，准确地分离铝种成为可能，这大大提高了分离合金的价值和可用性。另一个例子是，多能源技术使采矿业受益匪浅。它提供了精确的能源信息，可在非常早期的工艺步骤中从矿石中发现并分离出有价值的矿物。这样可以最大化过程输出的价值，并最大程度减少后续步骤中的过程浪费。”

“此外，我们使利用多能量技术的优势轻松满足多功能扫描需求变得容易。除多能量模式外，X-Scan ME具有可配置的光子计数模式的有效能量范围为20至160 keV。这些简单的配置针对需要快速扫描速度的准确且极低噪声数据的应用。这使得基础的多能量技术成为更广泛的高级X射线成像应用程序的诱人选择。”

该系列配备了精确的传感器间隙和对准控制，可形成无缝的探测器阵列，从而避免遗漏物体和图像失真，并增强材料分析以减少误报率和浪费。该光谱探测器系列具有很高的通量配置，可以利用高X射线功率穿透大型或密集的物体，并提高扫描速度。

应用优化的直接转换传感器和嵌入式数字信号处理算法提高了X-Scan ME系列的性能。该公司已经升级了前一代多能量检测器板的前端电子设备，并针对目标市场的特殊要求设计了X-Card ME3 XC检测器板。与上一代产品相比，X-Card ME3 XC具有两倍的光子计数功能，线性范围高达4 Mcps / px（每像素每秒百万计数），全范围超过11 Mcps / px。

该系列基于易于扩展的模块化平台构建，非常适合各种传送带宽度和物体尺寸。X-Scan ME的最大长度为1.2米，并带有不同的连接器。X-Scan ME具有坚固耐用，IP67分类的外壳以及可靠的机械和电气接口。它具有内置的液体冷却回路，用于抗污染和可靠的探测器热管理，这是多能源应用中的关键功能之一。整个冷却系统使用工业冷却器，其输出可完全用于X-Scan ME的冷却，或与X射线源冷却系统共享。

X-Scan ME带有适用于应用的坚固控制单元X-IM ME3-H和电源。此外，应用程序编程接口（API）工具和软件开发套件（SDK）支持将探测器直接集成到X射线扫描仪中。

“这个现成的检测器子系统展示了我们将出色技术转化为工业化产品的能力。由于多能量技术将检测精度提高到了新的高度，并且现在我们已经将所述技术的所有这些奇妙功能整合到了一个易于使用且可靠的端到端解决方案中，因此我们相信X-Scan ME即将实现开创高端工业X射线成像的新纪元。”